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湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
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湖南
湖南省长沙经济技术开发区东六路南段77号金科亿达科技城B49-2栋
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410100
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电子元器件
外部目检
微电子器件试验方法和程序GJB 548B-2005
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L10412
2023-11-03
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