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上海月芯半导体科技有限责任公司可靠性检测中心
纠错
上海
上海市自由贸易试验区盛夏路169号1幢309室
检测实验室
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201203
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| 序号 |
检测对象 |
项目/参数 |
标准方法 |
| 1 |
电气类半导体产品 |
高温试验 |
早期寿命故障率AEC-Q100-008:2003 |
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L13502
2020-08-27
2026-08-26
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