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清华大学微电子学研究所未来芯片技术高精尖创新中心测试实验室
纠错
北京
北京市海淀区荷清路3号院荷清大厦A座1层
检测实验室
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100084
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| 序号 |
检测对象 |
项目/参数 |
标准方法 |
| 1 |
集成电路 |
输入低电平电流 |
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路GB/T 17574-1998 |
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L15263
2021-08-12
2027-08-11
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