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重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司检测中心
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重庆
重庆市高新区西永街道西园一路28号惠普研发楼01栋1-2层
检测实验室
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401332
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| 序号 |
检测对象 |
项目/参数 |
标准方法 |
| 1 |
微电子器件 |
粒子碰撞噪声检测试验 |
微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 |
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L19255
2023-10-23
2029-10-22
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