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思瑞浦微电子科技（上海）有限责任公司实验中心
纠错
上海
上海市浦东新区张东路1761号3号楼1层
检测实验室
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201203
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| 序号 |
检测对象 |
项目/参数 |
标准方法 |
| 1 |
集成电路产品 |
高温存储寿命试验 |
高温存储寿命试验JEDEC JESD22-A103E.01:2021 |
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L19260
2023-10-23
2029-10-22
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