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中芯国际集成电路制造(上海)有限公司车载芯片可靠性专项检测中心
纠错
上海
上海市浦东新区张江路18号SO1栋1楼
检测实验室
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201203
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| 序号 |
检测对象 |
项目/参数 |
标准方法 |
| 1 |
车载芯片 |
温度偏压寿命试验 |
温度、偏压和操作寿命条件、方法JESD22-A108F:2017 |
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L20177
2024-02-22
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