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中国科学院电工研究所高频场控功率器件及装置产品质量检验中心
纠错
北京
北京市海淀区中关村北二条6号
检测实验室
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100190
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| 序号 |
检测对象 |
项目/参数 |
标准方法 |
| 1 |
半导体器件 |
高温阻断（HTRB） |
半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命IEC 60749-23:2004 |
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L7181
2023-10-08
2029-10-07
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