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上海维安电子股份有限公司
纠错
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上海市浦东新区施湾七路1001号A栋3层
检验机构
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201207
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查询
序号
检测对象
项目/参数
标准方法
1
半导体器件
高温反偏
半导体器件的环境试验方法 第1部分：方法1000至1999MIL-STD-750-1B:2022
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L25383
2026-03-12
2032-03-11
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