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深圳基本半导体股份有限公司详情
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深圳基本半导体股份有限公司
纠错
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广东省深圳市光明区凤凰街道东坑社区凤归路3号2栋二层
检验机构
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518107
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检测对象
项目/参数
标准方法
1
半导体器件
高温反偏试验
温度偏压寿命试验JEDEC JESD22-A108G-2022
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L25397
2026-03-13
2032-03-12
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